TRI開創(chuàng)性的3D AOI解決方案,采用超高速混合式PCB檢測(cè)法,結(jié)合光學(xué)與藍(lán)光雷射3D真實(shí)輪廓測(cè)量,對(duì)于自動(dòng)化檢測(cè)不良現(xiàn)象可達(dá)到最大化覆蓋率。結(jié)合最先進(jìn)的軟體解決方案以及第三代智能化硬體平臺(tái),可提供穩(wěn)定且強(qiáng)大的3D 焊點(diǎn)與元件缺陷檢測(cè),具備高檢測(cè)覆蓋率與簡(jiǎn)易編程優(yōu)點(diǎn)。
查看詳細(xì)TR7710結(jié)合了精確的高分辨率攝像系統(tǒng)和TRI獨(dú)有的多相位光源來捕捉精細(xì)的PCB板影像。新型的光學(xué)解決方案針對(duì)較高之元件檢測(cè),藉由提供多種間隙高度做選擇,以提升景深范圍。TRI第三代的 AOI相容性檢測(cè)軟件結(jié)合了優(yōu)異的缺陷檢測(cè)和簡(jiǎn)易智能CAD編程設(shè)計(jì),為一個(gè)具有成本效益、可配合多種預(yù)算客制化的AOI解決方案。
查看詳細(xì)上視加上四個(gè)傾斜角度之相機(jī)系統(tǒng),TR7500 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)提供性價(jià)比高且測(cè)試涵蓋率高的在線型檢測(cè)方案。此系統(tǒng)適于檢測(cè)分辨率范圍25μm到10 μm之間,使用TRI的動(dòng)態(tài)取像技術(shù),能避免如走停式取像所產(chǎn)生的震動(dòng),適合于爐前與爐后檢測(cè)使用。 TR7500有多區(qū)域且高彈性的RGB+W彩色光源系統(tǒng),配合低角度的光源設(shè)計(jì),可提供極性及黑色元器件更好的檢測(cè)方案,并且可針對(duì)無鉛和傳統(tǒng)組裝電路板上的微小元件01005及提供更精準(zhǔn)穩(wěn)定的檢測(cè)能力
查看詳細(xì)德律泰TR5001SII QDI ict新一代的在線型ICT+FCT解決方案擁有突破性的優(yōu)越表現(xiàn),多核心平行測(cè)試功能具多達(dá)四個(gè)獨(dú)立的核心,能夠大幅提升測(cè)試產(chǎn)能。 TRI*先進(jìn)的離線型機(jī)臺(tái)特色與業(yè)界認(rèn)可的防夾手安全設(shè)計(jì),能夠確保不間斷產(chǎn)線運(yùn)作,TR5001 SII QDI 擁有長生命周期快速插拔治具及內(nèi)建自我診斷系統(tǒng)支援自動(dòng)校驗(yàn)功能,能夠確保長期的測(cè)試可靠度
查看詳細(xì)TR7007 是快速的錫膏印刷檢測(cè)機(jī),檢測(cè)速度高達(dá)200 cm2/sec。高精度在線型無陰影的錫膏印刷檢測(cè)解決方案提供全3D檢測(cè),分辨率包含15 μm or 10 μm并具備高精度線型馬達(dá)平臺(tái)。此系統(tǒng)的特點(diǎn)包括closed loop function、強(qiáng)化的2D成像技術(shù)、自動(dòng)板彎補(bǔ)償功能與條紋光掃描技術(shù)
查看詳細(xì)什么是AOI
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(automated optical inspection, AOI)技術(shù),也稱為機(jī)器視覺檢測(cè)(machine vision inspection, MVI)技術(shù)或自動(dòng)視覺檢測(cè)(automated visual inspection, AVI)技術(shù)。在有些行業(yè),如平板顯示、半導(dǎo)體、太陽能等制造行業(yè),AOI這一術(shù)語更加流行,被人知曉。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上還是有細(xì)微差別的。
從狹義上來說,MVI是一種集成了圖像傳感技術(shù)、數(shù)據(jù)處理技術(shù)、運(yùn)動(dòng)控制技術(shù),在工業(yè)生產(chǎn)過程中,執(zhí)行測(cè)量、檢測(cè)、識(shí)別和引導(dǎo)等任務(wù)的一種新興的科學(xué)技術(shù)。MVI的基本原理可用圖 1 來表示,它采用光學(xué)成像方法(如相機(jī),或者一個(gè)復(fù)雜的光學(xué)成像系統(tǒng))模擬人眼的的視覺成像功能,用計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)代替人腦執(zhí)行數(shù)據(jù)處理,最后把結(jié)果反饋給執(zhí)行機(jī)構(gòu)(如機(jī)械手)代替人手完成各種規(guī)定的任務(wù)。
圖 1 MVI基本原理與功能
從廣義上來說,MVI是一種模擬和拓展人類眼、腦、手的功能的一種技術(shù),在不同的應(yīng)用領(lǐng)域其定義可能有著細(xì)微的差別,但都離開不了兩個(gè)根本的方法與技術(shù),即從圖像中獲取所需信息,然后反饋給自動(dòng)化執(zhí)行機(jī)構(gòu)完成特定的任務(wù)??梢哉f基于任何圖像傳感方法(如可見光成像、紅外成像、X光成像、超聲成像等等)的自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)都可以認(rèn)為是MVI或AVI。當(dāng)采用光學(xué)成像方法時(shí),MVI實(shí)際上就變?yōu)锳OI。因此AOI可以認(rèn)為是MVI的一種特例。
根據(jù)成像方法的不同,AOI又可分為三維(3D)AOI和二維(2D)AOI,三維AOI 主要用于物體外形幾何參數(shù)的測(cè)量、零件分組、定位、識(shí)別、機(jī)器人引導(dǎo)等場(chǎng)合; 二維AOI主要用于產(chǎn)品外觀(色彩、缺陷等)檢測(cè)、不同物體或外觀分類、良疵品檢測(cè)與分類等場(chǎng)合。
AOI系統(tǒng)組成
目前在產(chǎn)業(yè)界用得最多的AOI系統(tǒng)是由相機(jī)、鏡頭、光源、計(jì)算機(jī)等通用器件集成的簡(jiǎn)單光學(xué)成像與處理系統(tǒng)。如圖1所示,在光源照明下利用相機(jī)直接成像,然后由計(jì)算機(jī)處理實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。這種簡(jiǎn)單系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)是成本低、集成容易、技術(shù)門檻相對(duì)不高,在制造過程中能夠代替人工檢測(cè),滿足多數(shù)場(chǎng)合的要求。
但對(duì)于大幅面或復(fù)雜結(jié)構(gòu)物體的視覺檢測(cè),由于受到視場(chǎng)和分辨率(或精度)的相互制約,或生產(chǎn)節(jié)拍對(duì)檢測(cè)速度有特殊的要求,單相機(jī)組成的AOI系統(tǒng)有時(shí)難以勝任,因此可能需要有多個(gè)基本單元集成在一起,協(xié)同工作,共同完成高難度檢測(cè)任務(wù)。即采取一種多傳感器成像、高速分布式處理的AOI系統(tǒng)集成架構(gòu)。

圖2 多傳感器成像、高速分布式處理的MVI系統(tǒng)集成架構(gòu)
圖2 給出了一種大幅面表面缺陷AOI檢測(cè)系統(tǒng)的通用架構(gòu),該系統(tǒng)由光源,相機(jī)陣列、顯微復(fù)檢、集群并行處理系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、主控計(jì)算機(jī)、服務(wù)器組成,以及與工廠數(shù)據(jù)中心互聯(lián)的工業(yè)局域網(wǎng)組成。該系統(tǒng)架構(gòu)具有大幅面表面缺陷低分辨率快速檢出和高分辨率顯微復(fù)檢兩種功能。從圖中可以看出,完整的AOI系統(tǒng)不僅集成了照明與光學(xué)成像單元,還需要有被測(cè)件支撐傳輸單元、精密運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)與控制單元、高速并行圖像處理單元等。
AOI系統(tǒng)集成技術(shù)
AOI系統(tǒng)集成技術(shù)牽涉到關(guān)鍵器件、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、整機(jī)集成、軟件開發(fā)等。AOI系統(tǒng)中必不可少的關(guān)鍵器件有圖像傳感器(相機(jī))、鏡頭、光源、采集與預(yù)處理卡、計(jì)算機(jī)(工控機(jī)、服務(wù)器)等。圖像傳感器最常用的是各種型號(hào)的CMOS/CCD相機(jī),圖像傳感器、鏡頭、光源三者組合構(gòu)成了大多數(shù)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中感知單元,器件的選擇與配置需要根據(jù)檢測(cè)要求進(jìn)行合計(jì)設(shè)計(jì)與選型。
光源的選擇(顏色、波長、功率、照明方式等)除了分辨與增強(qiáng)特征外,還需考慮圖像傳感器對(duì)光源光譜的靈敏度范圍。鏡頭的選擇需要考慮視場(chǎng)角、景深、分辨率等光學(xué)參數(shù),鏡頭的光學(xué)分辨率要和圖像傳感器的空間分辨率匹配才能達(dá)到最佳的性價(jià)比。一般情況下,鏡頭的光學(xué)分辨率略高于圖像傳感器的空間分辨率為宜,盡可能采用黑白相機(jī)成像,提高成像分辨能力。圖像傳感器(相機(jī))采用面陣或線陣需根據(jù)具體情況而定,選型時(shí)需要考慮的因素有成像視場(chǎng)、空間分辨率、最小曝光時(shí)間、幀率、數(shù)據(jù)帶寬等。對(duì)于運(yùn)動(dòng)物體的檢測(cè),要考慮圖像運(yùn)動(dòng)模糊帶來的不利影響,準(zhǔn)確計(jì)算導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的最小曝光時(shí)間,確定圖像傳感器的型號(hào)。圖像傳感器的曝光時(shí)間應(yīng)小于導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)模糊的最小曝光時(shí)間,快速曝光選擇全局快門模式為宜,高速情況下不易采用卷簾式曝光模式;為了獲得最佳的信噪比,圖像傳感器的增益盡可能為1,圖像亮度的提升盡可能用光源的能量(功率)來彌補(bǔ),或者在不影響可用的成像景深情況下,增大鏡頭的孔徑光闌。
在系統(tǒng)集成中,被測(cè)件的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì),這牽涉到精密機(jī)械設(shè)計(jì)技術(shù),這對(duì)平板顯示、硅片、半導(dǎo)體和MEMS等精密制造與組裝產(chǎn)業(yè)中的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)非常重要。在這些領(lǐng)域,制造過程通常在超凈間進(jìn)行,要求自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)具有很高的自潔能力,對(duì)系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型都有嚴(yán)格要求,不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來二次污染。尤其是用于表面缺陷檢測(cè)的AOI系統(tǒng)不能在檢測(cè)過程中,給被測(cè)件表面帶來缺陷(如粉塵、劃傷、靜電等)。因此,對(duì)于大型零件(如高世代的液晶玻璃基板、硅片等)的在線檢測(cè),常常需要采取氣浮支撐、定位與傳輸機(jī)構(gòu),運(yùn)動(dòng)部件(如軸承等)采用自潤滑器件,以及利用FFU風(fēng)機(jī)過濾機(jī)組對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行環(huán)境凈化,并采取消靜電裝置,對(duì)工件進(jìn)行防靜電處理。
高速圖像數(shù)據(jù)處理與軟件開發(fā)是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的核心技術(shù)。由于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是以圖像傳感獲取被測(cè)信息,數(shù)據(jù)量大,尤其是高速在線檢測(cè),圖像數(shù)據(jù)有時(shí)是海量的,為滿足生產(chǎn)節(jié)拍需求,必須采用高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)。常用的方法有共享內(nèi)存式的多線程處理,共享內(nèi)存或分布式內(nèi)存多進(jìn)程處理等;在系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)上采用分布式計(jì)算機(jī)集群,把巨大的圖像分時(shí)、分塊分割成小塊數(shù)據(jù)流,分散到集群系統(tǒng)各節(jié)點(diǎn)處理。對(duì)于耗時(shí)復(fù)雜的算法,有時(shí)僅靠計(jì)算機(jī)CPU很難滿足時(shí)間要求,這時(shí)還需配備硬件處理技術(shù),如采用DSP、GPU和FPGA等硬件處理模塊,與CPU協(xié)同工作,實(shí)現(xiàn)快速復(fù)雜的計(jì)算難題。
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